膜厚ムラ解析装置
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(株)アイ・システム
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本装置は干渉色をCCDカラーカメラでとらえ、独自の膜厚ムラアルゴリズムでの画像解析により表面コーティングの膜厚および面としての膜厚ムラを瞬時に計測できる画期的な非接触式膜厚均一性計測装置です
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