プリント基板外観検査装置 Discovery/Ultra Discoveryシリーズ 日本オルボテック（株）
プリント基板外観検査装置 Discovery
TM
/Ultra Discovery
TM
シリーズ
日本オルボテック（株）
東京都品川区上大崎1-1-17 LSビル TEL 03-3280-3878 FAX 03-3280-1121
ID
E019-02
概要
Discovery及びUltra Discoveryシリーズ
Discovery 及びUltra Discoveryシリーズは、すでにPCB製造現場で実証済みの“SIP” (ソフトウェア・イメージ･プロセッシング)テクノロジーにより、簡単操作、低虚報率を実現する高性能な検査装置です。画期的なプッシュtoスキャン（Push-to-Scan
TM
）は、作業者のレベルを問わない安定した検査結果を実現します。また、ビジュアルインテリジェンスの採用により、高感度での虚報と検出力のトレードオフを最小限に保ち、検出させたいものだけを検出することができます。Discovery/Ultra Discoveryシリーズは最少の虚報数、最高レベルの稼働率を実現し、めざましい投資効果を提供します。
各プリント基板タイプ（ライン/スペース）に応じて以下モデルをご用意しています。また、優れた画像品質、検証速度、使いやすさが特徴の欠陥確認/修正ステーションもご用意しています。
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ラインナップ
Discovery シリーズ： プリント基板向けAOI
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Discovery 8000： L/S 45μm以上
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Discovery 8800： L/S 30μm以上
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Discovery OLB： L/S 35μm以上
※本体一体型 欠陥確認・修正ユニット付
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Discovery XL： L/S 45μm以上
※長さ1117mm対応の大型基板向け
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Discovery PT： フォトマスク向け、L/S 35μm以上
※本体一体型、確認ユニット搭載
Ultra Discoveryシリーズ： パッケージ基板向けAOI
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Ultra Discovery V： L/S 15μm以上
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Ultra Discovery VM： L/S 10μm以上
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Ultra Discovery F1： L/S 7μm以上
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Ultra Discovery PT： L/S 10μm以上
※本体一体型、確認ユニット搭載
欠陥確認／修正ステーション
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VeriSmart/VeriSmart-A： 通常解像度モデル、プリント基板全般
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VeriFine/VeriFine-A ： 高解像度モデル、BGA、CSP、FCA-BGA基板に対応
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Ultra VeriFine-A ： 高解像度モデル、最先端FCA-BGA基板に対応
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Aモデルは、アメジストテクノロジーを搭載、UV照明付きで視認性が向上します。
