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カタログ検索>カールツァイス(株)>計測用X線CT装置 ZEISS METROTOM 1 カタログ
計測用X線CT装置 ZEISS METROTOM 1 カタログPDFNEW
計測用X線CT装置 ZEISS METROTOM 1 カタログ  
見えないエリアを一度に検査
新次元の使いやすさ

ZEISS Metrotom 1 の使いやすいCTテクノロジーなら、たった1回のスキャンを行うだけで、誰でも複雑な測定タスクおよび検査タスクを効率的に実行することができます。
接触式または光学式の測定システムでは検出することのできない、隠れた欠陥や内部構造を測定し検査することができます。
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